Efecte de l'estrès estructual sobre l'emissió estimulada (laseig) en capes epitaxials de KY0.8Yb0.2(WO4)2 i KLu0.8Yb0.2(WO4)2 crescudes sobre substractes de KY(WO4)2 i KLu(WO4)2

dc.contributor
Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca
dc.contributor
Universitat Rovira i Virgili
dc.contributor.author
Carvajal Martí, Joan Josep
dc.date.accessioned
2012-02-01T16:16:52Z
dc.date.available
2012-02-01T16:16:52Z
dc.date.created
2008
dc.date.issued
2012-02-01
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/2072/179598
dc.description.abstract
Projecte de recerca elaborat a partir d’una estada a la State University of New York a Stony Brook, EEUU, a l’agost i setembre del 2008. S’ha demostrat com està relacionada la diferència en el rendiment de lasejat de dos mostres altament dopades amb iterbi (20 at. %) de capes epitaxials de KY(WO4)2 (KYW) dopat amb Yb crescut sobre un substrat de KYW i de KLu(WO4)2 (KLuW) dopat amb Yb crescut sobre un substrat de KLuW, respectivament, amb la presència de estrès estructural en les capes epitaxials, investigat per Topografia de Feix Blanc de Raig X de Sincrotró. A partir dels resultats obtinguts, queda clar que les mostres que mostren una quantitat d'estrés estructural més gran, les epitaxies de KYW dopat amb Yb crescudes sobre substrats de KYW, duen a una eficiència més petita durant el lasejat, permetent establir una correlació directa entre l'existència i la magnitud d'aquest estrès estructural i la pèrdua del rendiment làser en aquestes capes epitaxial, que per altra banda, des del punt de vista espectroscòpic són equivalents.
cat
dc.description.abstract
Report for the scientific sojourn at the State University of New York at Stony Brook, USA, on august and september 2008.It has been demonstrated how the difference in laser performance of two highly doped (20 at %) epitaxial layers of Yb-doped KY(WO4)2 (KYW) grown on a KYW substrate and Yb-doped KLu(WO4)2 (KLuW) grown on a KLuW substrate, respectively, is related to the presence of structural stress in the epilayers, investigated by Synchrotron White Beam X-ray Topography. From the results obtained it is clear that the samples that show a larger amount of structural stress, Yb:KYW/KYW epitaxies, lead to lower efficiency in laser operation, giving a direct correlation between the existence and magnitude of such structural stress and the loss in efficiency of laser performance in such epitaxial layers which, from spectroscopical point of view, are otherwise equivalent.
eng
dc.format.extent
8 p.
cat
dc.language.iso
cat
cat
dc.relation.ispartofseries
Els ajuts de l'AGAUR;2007 BE-100105
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights
L'accés als continguts d'aquest document queda condicionat a l'acceptació de les condicions d'ús establertes per la següent llicència Creative Commons: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subject.other
Epitàxia
cat
dc.subject.other
Cristalls -- Creixement
cat
dc.title
Efecte de l'estrès estructual sobre l'emissió estimulada (laseig) en capes epitaxials de KY0.8Yb0.2(WO4)2 i KLu0.8Yb0.2(WO4)2 crescudes sobre substractes de KY(WO4)2 i KLu(WO4)2
cat
dc.type
info:eu-repo/semantics/report
cat
dc.subject.udc
54
cat
dc.embargo.terms
cap
cat


Documentos

2007 BE-1 00105.pdf

591.2Kb PDF

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)