Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/1303

Uncertainty analysis in two-terminal impedance measurements with residual correction
Torrents Dolz, Josep M.; Pallàs Areny, Ramon
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. GRUP ISI - Grup d'Instrumentació, Sensors i Interfícies
Residual impedance correction in impedance analyzers when using an asymmetrical test fixture needs three reference measurements, usually open circuit, short circuit, and load (meaning an impedance close to the impedance under test). This paper provides an uncertainty estimate for impedance measurements that apply a simple open/short correction in spite of using an asymmetrical test fixture. Experimental results show that the minimal uncertainty is obtained for impedance values close to the geometric mean of the short-circuit and open-circuit impedances, and that the theoretical prediction is indeed an upper limit for the actual uncertainty
Peer Reviewed
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura
-Impedance (Electricity)
-Impedance measurements
-Residual correction
-Impedància (Electricitat)
Objeto de conferencia
Institute of Electrical and Electronics Engineers
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Gasulla Forner, Manuel; Jordana Barnils, José; Pallàs Areny, Ramon; Torrents Dolz, Josep M.
Gasulla Forner, Manuel; Jordana Barnils, José; Pallàs Areny, Ramon; Torrents Dolz, Josep M.
Pialarissi Cavalaro, Sergio Henrique; López Carreño, Rubén-Daniel; Torrents Dolz, Josep M.; Aguado de Cea, Antonio; Juan Garcia, Pablo