Title:
|
SRAM cell stability metric under transient voltage noise
|
Author:
|
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
|
Other authors:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Subject(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronics -Memòries digitals |
Rights:
|
|
Document type:
|
Article - Published version Article |
Share:
|
|