Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/86306
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones |
dc.contributor.author | Lázaro Guillén, Antoni |
dc.contributor.author | Pradell i Cara, Lluís |
dc.contributor.author | Beltrán, A |
dc.contributor.author | O'Callaghan Castellà, Juan Manuel |
dc.date | 1998-02 |
dc.identifier.citation | Lazaro, A., Pradell, L., Beltrán, A., O'callaghan, J. Direct extraction of all four transistor noise parameters from 50 noise figure measurements. "Electronics Letters", Febrer 1998, vol. 34, núm. 3, p. 289-291. |
dc.identifier.citation | 0013-5194 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/86306 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | Institution of Electrical Engineers |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Electronics |
dc.subject | Electrònica |
dc.title | Direct extraction of all four transistor noise parameters from 50 noise figure measurements |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |