Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/100692
Títol: | Development of self-calibration techniques for on-wafer and fixtured measurements: a novel approach |
---|---|
Autor/a: | Pradell i Cara, Lluís; Purroy Martín, Francesc; Cáceres, M. |
Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones |
Abstract: | |
Abstract: | |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació -Telecommunication -Land mobile radio -Calibration -Microstrip -Transmission line measurements -Semiconductor device measurement -Equations -Transmission line matrix methods -Scattering parameters -Coaxial components -Transmission line theory -Telecomunicació |
Drets: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipus de document: | Article - Versió publicada Objecte de conferència |
Publicat per: | . MICROWAVE EXHIBITIONS AND PUBLISHERS |
Compartir: |