Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/113824
Título: | Determination of shape and sphericity of silicon quantum dots imaged by EFTEM-tomography |
---|---|
Autor/a: | Ayala Vallespí, M. Dolors; Hiller, Daniel; Gutsch, Sebastian; López Vidrier, Julián; Zacharias, Margit; Estradé Albiol, Sònia; Peiró Martínez, Francesca; Cruz-Matías, Irving |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciències de la Computació; Universitat Politècnica de Catalunya. GIE - Grup d'Informàtica a l'Enginyeria |
Abstract: | |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica -Application software--Development -Tomography -Silicon Quantum Dots -EFTEM-Tomography -Structural parameters computation -Programari d'aplicació -- Desenvolupament -Tomografia |
Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión presentada Artículo |
Compartir: |