To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/83772
Title: | Análisis de errores en sistemas de medida de ruido. Sistema de medida de parámetros de ruido de transistores de microondas |
---|---|
Author: | Pradell i Cara, Lluís; Comerón Tejero, Adolfo; Ramírez Marín, A.; Martorell, Jm |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques -Microwave transistors -Electromagnetic noise -Transistors de microones -Soroll electromagnètic |
Rights: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Published by: | Universidad Politécnica de Madrid (UPM) |
Share: |