Scanning probe microscopies for analytical studies at the nanometer scale
Esplandiu Egido, Maria José
-Microscòpia de sonda de rastreig
-SPM
-Microscòpia de força atòmica
-AFM
-Microscòpia d'efecte túnel
-STM
-Espectroscòpia de força
-Mètodes d'anàlisi local
-Scanning probe microscopies
-Atomic force microscopy
-Scanning tunneling microscopy
-Force spectroscopy
-Local probe-based methods
open access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, sempre que no sigui amb finalitats comercials i que es distribueixin sota la mateixa llicència que regula l'obra original. Cal que es reconegui l'autoria de l'obra original.
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/
Article
         
https://ddd.uab.cat/record/117996

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters