To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/18182

Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar
Besteiro, J.; Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.; Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005
Universitat de Barcelona
-Microscòpia
-Refracció
-Microscopy
-Refraction
(c) Besteiro, et al., 1974
Article
Article - Published version
Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Vendrell Saz, Màrius; Nogués, Joaquim M.; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.
Nogués, Joaquim M.; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.
Nogués, Joaquim M.; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.
Nogués, Joaquim M.; Vendrell Saz, Màrius; Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005
 

Coordination

 

Supporters