Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos

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Title:	Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
Author:	Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel
Other authors:	Universitat de Barcelona
Abstract:	Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.
Subject(s):	-Difracció -Refracció -Diffraction -Refraction
Rights:	(c) Vendrell-Saz, et al., 1979
Document type:	Article Article - Published version
Published by:	Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
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