Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: http://hdl.handle.net/2072/352757

Versatile IR spectroscopy combined with synchrotron XAS-XRD: Chemical, electronic and structural insights during thermal treatment of MOF materials
Hinokuma, Satoshi; Wiker, Geir; Suganuma, Takuya; Bansode, Atul; Stoian, Dragos; Caminero Huertas, Silvia; Molina, Sonia; Shafir, Alexandr; Rønning, Magnus; van Beek, Wouter; Urakawa, Atsushi
08-05-2018
54
L'accés als continguts d'aquest document queda condicionat a l'acceptació de les condicions d'ús establertes per la següent llicència Creative Commons:http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
1847 p.
Article
Article - Versió acceptada
10.1002/ejic.201800140
         

Text complet d'aquest document

Fitxers Mida Format
2018_SHinokuma_EurJInorgChem_XAS-XRD-IR_WILEY.pdf 792.5 KB PDF

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats