To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/20632
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics |
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Gómez Pau, Álvaro |
dc.contributor.author | Sanahuja Moliner, Ricard |
dc.contributor.author | Balado Suárez, Luz María |
dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
dc.date | 2010 |
dc.identifier.citation | Álvaro Gómez-Pau [et al.]. Analog circuit test based on a digital signature. A: Design, Automation and Test in Europe. "Proceedings: Design, Automation & Test in Europe: Dresden, Germany, March 8-12, 2010". Dresden: 2010, p. 1641-1644. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/20632 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://www.date-conference.com/proceedings/PAPERS/2010/YEAR.HTM |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Seguretat informàtica::Criptografia |
dc.subject | Monitoring |
dc.subject | Digital signatures |
dc.subject | Linear integrated circuits |
dc.subject | Monitoratge |
dc.subject | Signatures electròniques |
dc.subject | Circuits integrats lineals |
dc.title | Analog circuit test based on a digital signature |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |