Universitat Autònoma de Barcelona
Random Telegraph Noise (RTN) is one of the main reliability problems of resistive switching-based memories. To understand the physics behind RTN, a complete and accurate RTN characterization is required. The standard equipment used to analyse RTN has a typical time resolution of ∼2 ms which prevents evaluating fast phenomena. In this work, a new RTN measurement procedure, which increases the measurement time resolution to 2 μs, is proposed. The experimental set-up, together with the recently proposed Weighted Time Lag (W-LT) method for the analysis of RTN signals, allows obtaining a more detailed and precise information about the RTN phenomenon.
English
Resistive switching; Random telegraph noise; Resolution; Time constants; RRAM
Ministerio de Economía y Competitividad TEC2011-27292-C02-02
Ministerio de Economía y Competitividad TEC2013-45638-C3-1-R
Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2014/SGR-384
Solid-state electronics ; Vol. 115, Part B (January 2016), p. 140-145
open access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades.
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
