Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects

Other authors

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics

Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Publication date

2010

Abstract

Peer Reviewed


Postprint (published version)

Document Type

Conference report

Language

English

Related items

http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198

Recommended citation

This citation was generated automatically.

Rights

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/

Restricted access - publisher's policy

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain

This item appears in the following Collection(s)

E-prints [72986]