1. Inici
  2. Universitat Politècnica de Catalunya
  3. E-prints
  4. Visualitza l'element

Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects

Autor/a

Rodríguez Montañés, Rosa

Arumi Delgado, Daniel

Manich Bou, Salvador

Figueras Pàmies, Joan

Di Carlo, Stefano

Prinetto, Paolo

Scionti, Alberto

Altres autors/es

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics

Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Data de publicació

2010

Compartir

Resum

Peer Reviewed

Postprint (published version)

Tipus de document

Conference report

Llengua

Anglès

Matèries i paraules clau

Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica; Electronic engineering; Nanotecnologia; Enginyeria electrònica -- Congressos

Documents relacionats

http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198

Citació recomanada

Aquesta citació s'ha generat automàticament.

Exportar

DIDL MARC MARC_CCUC METS OAI_DC ORE QDC RDF

Drets

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/

Restricted access - publisher's policy

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain

Aquest element apareix en la col·lecció o col·leccions següent(s)

E-prints [72986]