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SP1 - Addressing the Challenges of 5G Production Test

Autor/a

Roos, Mark

Morris, Devin

Fecha de publicación

2022-05

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Tipo de documento

Conference report

Lengua

Inglés

Materias y palabras clave

Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica; Microelectronics; Integrated circuits; Spintronics; Microelectrònica; Circuits integrats; Espintrònica

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https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9810327/proceeding

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