Fecha de publicación

2009



Resumen

We study hydrogen stability and its evolution during thermal annealing in nanostructured amorphous silicon thin films. From the simultaneous measurement of heat and hydrogen desorption, we obtain the experimental evidence of molecular diffusion in these materials. In addition, we introduce a simple diffusion model which shows good agreement with the experimental data

Tipo de documento

Artículo


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Lengua

Inglés

Publicado por

American Physical Society

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