1. Inicio
  2. Universitat Autònoma de Barcelona
  3. Articles escrits per personal UAB o publicats per la universitat
  4. Ver ítem

Non-homogeneuos conduction of conductive filaments in Ni/HfO2/Si resistive switching structures observed with CAFM

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: https://ddd.uab.cat/record/163085

Autor/a

Claramunt, Sergi

Wu, Qian

Maestro Izquierdo, Marcos

Porti i Pujal, Marc

Bargallo Gonzalez, Mireia

Martin Martinez, Javier

Campabadal, Francesca

Nafría i Maqueda, Montserrat

Fecha de publicación

2015

Compartir

Resumen

Altres ajuts: ERDF/TEC2011-2792-C02-02

Conductive filaments (CFs) in Ni/HfO₂/Si resistive switching structures are analysed at the nanoscale by means of Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM). Differences in the CF conductivity are measured depending on the resistive state of the device. Moreover, for both resistance states, non-homogeneous conduction across the CF area is observed, in agreement with a tree-shaped CF.

Tipo de documento

Article

Lengua

Inglés

Materias y palabras clave

Resistive switching; CAFM; Metal-insulator-semiconductor (MIS)

Publicado por

 

Documentos relacionados

Ministerio de Economía y Competitividad TEC2013-45638-C3-1-R

Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2014/SGR-384

Microelectronic engineering ; Vol. 147 (November 2015), p. 335-338

Citación recomendada

Esta citación se ha generado automáticamente.

Exportar

DIDL MARC MARC_CCUC METS OAI_DC ORE QDC RDF

Derechos

open access

Aquest material està protegit per drets d'autor i/o drets afins. Podeu utilitzar aquest material en funció del que permet la legislació de drets d'autor i drets afins d'aplicació al vostre cas. Per a d'altres usos heu d'obtenir permís del(s) titular(s) de drets.

https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Articles escrits per personal UAB o publicats per la universitat [88076]