1. Inici
  2. Universitat Politècnica de Catalunya
  3. E-prints
  4. Visualitza l'element

Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy

Autor/a

Santos Hernández, Sergio

Gadelrab,, K.

Barcons Xixons, Víctor

Stefancich, M.

Chiesa, Matteo

Altres autors/es

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics

Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control

Data de publicació

2012-07-20

Compartir

Resum

A formalism to extract and quantify unknown quantities such as sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering the unknowns only requires the cantilever to be accurately calibrated and the dissipative processes occurring during sample deformation to be well modeled. The theory is validated by comparison with numerical simulations and shown to be able to provide, in principle, values of sample deformation with picometer resolution.

Postprint (published version)

Tipus de document

Article

Llengua

Anglès

Matèries i paraules clau

Àrees temàtiques de la UPC::Física; Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica; Atomic force microscopy; Dissipative process; Energy hysteresis; Picometer resolution; Sample deformation; Unknown quantity; Microscòpia de força atòmica

Documents relacionats

http://iopscience.iop.org/1367-2630/14/7/073044

Citació recomanada

Aquesta citació s'ha generat automàticament.

Exportar

DIDL MARC MARC_CCUC METS OAI_DC ORE QDC RDF

Drets

Restricted access - publisher's policy

Aquest element apareix en la col·lecció o col·leccions següent(s)

E-prints [73026]