1. Inicio
  2. Universitat Politècnica de Catalunya
  3. E-prints
  4. Ver ítem

Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy

Autor/a

Santos Hernández, Sergio

Gadelrab,, K.

Barcons Xixons, Víctor

Stefancich, M.

Chiesa, Matteo

Otros/as autores/as

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics

Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control

Fecha de publicación

2012-07-20

Compartir

Resumen

A formalism to extract and quantify unknown quantities such as sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering the unknowns only requires the cantilever to be accurately calibrated and the dissipative processes occurring during sample deformation to be well modeled. The theory is validated by comparison with numerical simulations and shown to be able to provide, in principle, values of sample deformation with picometer resolution.

Postprint (published version)

Tipo de documento

Article

Lengua

Inglés

Materias y palabras clave

Àrees temàtiques de la UPC::Física; Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica; Atomic force microscopy; Dissipative process; Energy hysteresis; Picometer resolution; Sample deformation; Unknown quantity; Microscòpia de força atòmica

Documentos relacionados

http://iopscience.iop.org/1367-2630/14/7/073044

Citación recomendada

Esta citación se ha generado automáticamente.

Exportar

DIDL MARC MARC_CCUC METS OAI_DC ORE QDC RDF

Derechos

Restricted access - publisher's policy

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

E-prints [73020]